3、系統基本參數
3.1 電 壓 源：220vac ±10% ，50hz/60hz 20a rms；
3.2 加熱功能：室溫～150℃；
3.3 測試功能：可測試igbt模塊及frd；
3.4 環境溫度：25℃±15℃；
3.5 環境濕度：50% ±20% 相對濕度
4、動態測試基本配置
4.1 集電級電壓 vcc： 50 ~ 1000v；
4.2 集電極電流 ic： 50 ~ 1000a 感性負載；
4.3 電流持續時間 it： 10 ~ 1000 us 單個脈沖或雙脈沖的總時間； 4.4 脈 沖 模 式： 單脈沖和雙脈沖；
4.5 單電流脈沖的設置： vcc，ic，變頻器用igbt測試儀， 電感值自動計算脈寬；
4.6 雙電流脈沖的設置： vcc， ic，變頻器用igbt測試儀加工， 電感值，間隙時間10到50us(脈寬自動計算)；
開啟qrr測試：第二個脈寬＝間隙時間，變頻器用igbt測試儀批發，10~50us；
4.7 設備寄生電感 lint: < 65nh感性動態測試。
華科智源igbt測試儀針對 igbt 的各種靜態參數而研制的智能測試系統；自動化程度高按照操作人員設定的程序自動工作，計算機可以記錄測試結果，變頻器用igbt測試儀廠家，測試結果可轉化為文本格式存儲，測試方法靈活可測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試，安全穩定對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖，具有安全保護功能，測試速度方便快捷。1v -30v～30vqg柵極電荷 400~20000nc ig:0～50a±3%±0。
測試參數多且完整、應用領域更廣泛，但只要使用其基本的2項功能：「開啟」電流壓降，「關閉」電流的漏電流，就可知道大功半導體有沒有老化的現象。
?可移動型儀器，使用方便，測試簡單快速，立即提供測試結果與數值。
?適用的半導體元件種類多，尤其能測大功率元件。
?用戶能確實掌握新采購元件的，避免用到瑕疵或品。
?完全由計算機控制、快速的設定參數。
?適用于實驗室和老化篩選的測試。
?操作非常簡單、速度快。
?完全計算機自動判斷、自動比對。
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