14工控機(jī)及操作系統(tǒng)
用于控制及數(shù)據(jù)處理，采用定制化系統(tǒng)，變頻器用igbt測(cè)試儀加工，主要技術(shù)參數(shù)要求如下：
?機(jī)箱：4μ 15槽上架式機(jī)箱；
?支持atx母板；
?cpμ：intel雙核；
?主板：研華simb；
?硬盤：1tb；內(nèi)存4g；
?3個(gè)5.25”和1個(gè)3.5”外部驅(qū)動(dòng)器；
?集成vga顯示接口、4個(gè)pci接口、6個(gè)串口、6個(gè)μsb接口等。
?西門子plc邏輯控制
15數(shù)據(jù)采集與處理單元
用于數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理，主要技術(shù)參數(shù)要求如下：
?示波器;高壓探頭：滿足表格4-11動(dòng)態(tài)參數(shù)、短路電流、安全工作區(qū)測(cè)試需求
?電流探頭：滿足表格4-11動(dòng)態(tài)參數(shù)、短路電流、安全工作區(qū)測(cè)試需求
?狀態(tài)監(jiān)測(cè)：ni數(shù)據(jù)采集卡
?上位機(jī)：基于labview人機(jī)界面
?數(shù)據(jù)提取：測(cè)試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為excel文件及其他用戶需要的任何數(shù)據(jù)格式，-是動(dòng)態(tài)測(cè)試波形可存儲(chǔ)為數(shù)據(jù)格式；所檢測(cè)數(shù)據(jù)可傳遞位機(jī)處理；從檢測(cè)部分傳輸?shù)臄?shù)據(jù)經(jīng)上位機(jī)處理后可自動(dòng)列表顯示相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)；?數(shù)據(jù)處理和狀態(tài)檢測(cè)部分內(nèi)容可擴(kuò)展
4驗(yàn)收和測(cè)試3)驗(yàn)收試驗(yàn)應(yīng)在-10～40℃環(huán)境溫度下進(jìn)行，變頻器用igbt測(cè)試儀價(jià)格，驗(yàn)收完成后測(cè)試平臺(tái)及外部組件和裝置均應(yīng)安裝在買方的位置上。4)測(cè)試單元發(fā)貨到買方前，賣方應(yīng)進(jìn)行出廠試驗(yàn)。6 vces 集射極截止電壓 0~5000v 集電極電流ices： 0。賣方出廠試驗(yàn)詳細(xì)方案應(yīng)提前提交買方評(píng)估，變頻器用igbt測(cè)試儀-，通過(guò)買方評(píng)估合格后實(shí)施方可視為有效試驗(yàn)。否則，需按買方提出的修改意見(jiàn)重新制定出廠試驗(yàn)方案，直至買方評(píng)估合格。
三、華科智源igbt測(cè)試儀系統(tǒng)特征：a：測(cè)量多種igbt、mos管 b：脈沖電流1200a，電壓5kv，變頻器用igbt測(cè)試儀，測(cè)試范圍廣；同一測(cè)試條件的器件的測(cè)試曲線可以在軟件內(nèi)進(jìn)行對(duì)比，新測(cè)曲線可以與原測(cè)曲線進(jìn)行對(duì)比。c：脈沖寬度 50us~300usd：vce測(cè)量精度2mve：vce測(cè)量范圍>10vf：電腦圖形顯示界面g：智能保護(hù)被測(cè)量器件h：上位機(jī)攜帶數(shù)據(jù)庫(kù)功能i：mos igbt內(nèi)部二極管壓降j : 一次測(cè)試igbt全部靜態(tài)參數(shù)k: 生成測(cè)試曲線iv曲線直觀看到igbt特性，可以做失效分析以及故障定位l:可以進(jìn)行不同曲線的對(duì)比，觀測(cè)同一批次產(chǎn)品的曲線狀態(tài)，或者不同廠家同一規(guī)格參數(shù)的曲線對(duì)比；
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