1.1. silicon characterization
peakview支持silicon characterization工作,包括test key建立、去嵌建模以及自動(dòng)去嵌。silicon data 與 simulation data比對(duì),并提供準(zhǔn)確的simulation data,以完成建模;以及temperature effects characterization
1.2. peakview
北京歐普蘭科技有限公司簡(jiǎn)稱:北京歐普蘭長(zhǎng)期和各大ic設(shè)計(jì)公司進(jìn)行技術(shù)合作,從設(shè)計(jì)和場(chǎng)方面對(duì)片上無(wú)源器件具有深入了解和綜合經(jīng)驗(yàn)。能夠提供各種無(wú)源器件綜合建模流程方案,且已在-市場(chǎng)得到了充分驗(yàn)證,精度-。
項(xiàng)目上述要求,我公司方案均能滿足:
能進(jìn)行模型優(yōu)化+掃描,以模型尺寸參數(shù)化理念進(jìn)行綜合,根據(jù)優(yōu)化目標(biāo)值和掃描設(shè)定可隨意進(jìn)行參數(shù)遍歷調(diào)整,提供的綜合模型,以及生成的多種模型,藍(lán)牙 rc提取,方便設(shè)計(jì)折中選取。
能夠通過(guò)技術(shù)手段調(diào)整器件模型面積,以及改變模型長(zhǎng)寬比,在-模型精度前提下,-版圖面積的合理利用。下圖給出版圖面積和長(zhǎng)寬比的調(diào)整方案舉例:
1) 系統(tǒng)公式及公式編輯器:提供典型器件公式例如:對(duì)稱電感,變壓器,傳輸線等,還允許用戶根據(jù)器件性能自行編輯公式;
2) 目錄功能:允許用戶在同一個(gè)工程設(shè)計(jì)中建立不同的目錄,每個(gè)目錄可以被單獨(dú)控制,例如顯示所有cell,同步cell到cadence等,使用戶界面簡(jiǎn)單。
3) 支持pin腳編輯功能,可以在軟件中,對(duì)pin腳進(jìn)行添加、刪除、重命名等