1.1. silicon characterization
peakview支持silicon characterization工作，包括test key建立、去嵌建模以及自動(dòng)去嵌。silicon data 與 simulation data比對(duì)，并提供準(zhǔn)確的simulation data，以完成建模；以及temperature effects characterization
1.2. peakview
北京歐普蘭科技有限公司簡(jiǎn)稱：北京歐普蘭長(zhǎng)期和各大ic設(shè)計(jì)公司進(jìn)行技術(shù)合作，從設(shè)計(jì)和場(chǎng)方面對(duì)片上無(wú)源器件具有深入了解和綜合經(jīng)驗(yàn)。能夠提供各種無(wú)源器件綜合建模流程方案，且已在-市場(chǎng)得到了充分驗(yàn)證，精度-。
項(xiàng)目上述要求，我公司方案均能滿足：
能進(jìn)行模型優(yōu)化+掃描，以模型尺寸參數(shù)化理念進(jìn)行綜合，根據(jù)優(yōu)化目標(biāo)值和掃描設(shè)定可隨意進(jìn)行參數(shù)遍歷調(diào)整，提供的綜合模型，以及生成的多種模型，藍(lán)牙 rc提取，方便設(shè)計(jì)折中選取。
能夠通過(guò)技術(shù)手段調(diào)整器件模型面積，以及改變模型長(zhǎng)寬比，在-模型精度前提下，-版圖面積的合理利用。下圖給出版圖面積和長(zhǎng)寬比的調(diào)整方案舉例：
1) 系統(tǒng)公式及公式編輯器：提供典型器件公式例如：對(duì)稱電感，變壓器，傳輸線等，還允許用戶根據(jù)器件性能自行編輯公式；
2) 目錄功能：允許用戶在同一個(gè)工程設(shè)計(jì)中建立不同的目錄，每個(gè)目錄可以被單獨(dú)控制，例如顯示所有cell，同步cell到cadence等，使用戶界面簡(jiǎn)單。
3) 支持pin腳編輯功能，可以在軟件中，對(duì)pin腳進(jìn)行添加、刪除、重命名等
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