反射膜厚儀—廣州景頤光電科技有限公司是一家專門做膜厚儀的廠家
反射膜厚儀
緊湊型-反射膜厚儀，利用光學干涉原理，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜，快速準確測量薄膜厚度、光學常數(shù)等信息。
光學薄膜測量解決方案;
非接觸、非破壞測量;
重點算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析;
是膜厚重復性測量精度:0.02nm
配置靈活、支持定制化
產(chǎn)品特點
采用高強度鹵素燈光源，光譜覆蓋深紫外到近紅外范圍;
采用光機電高度整合一體化設計，體積小，操作簡便；
基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理，輕松解析單層薄膜到多層；
歡迎咨詢景頤光電了解更多反射膜厚儀
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影響國產(chǎn)膜厚測量儀示值的因素
國產(chǎn)膜厚測量儀采用新劑高性鐵、們低功耗的處理器技術，反射膜厚儀批發(fā)，基于超聲被擾量原理，可以現(xiàn)量金屬隊其它多種材質的國度，三門峽反射膜厚儀，并可以材抵的聲送進行擾量。可次性產(chǎn)備中多箱管首逝和壓力容器進行厚度惻星，在使用過程中受瘸后的減薄程度，反射膜厚儀廠家，還可以對多種板材和多種加工零件作測量。
影響國產(chǎn)膜厚測量儀示值的因素
工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號。
對于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設備、管道等可通過砂、磨、挫等
方法對表面進行處理，降低粗糙度，同時也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過耦合劑能達到-的耦合效果。
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選擇涂層測厚儀的方法
涂層測厚儀需要根據(jù)實際的情況來進行選擇
1、根據(jù)被測材料大小選擇
測量常規(guī)平面，凹槽等材料的涂層厚度，可以使用一體式或者分體式涂層測厚儀。被測物如果比較小，反射膜厚儀價位，如螺絲、螺帽以及異型材料，可以使用探針式的表面涂層測厚儀。為了測量的準確性也可以配合手壓測試機架進行測試。
2、根據(jù)測量場合選擇
被測物表面平整且空間大的話，可以使用主機與測頭一體式的涂層測厚儀，如果測量空間比較狹小，可以使用分體式設計的涂層測厚儀。
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