測(cè)試反射率板—————廣州景頤光電科技有限公司,是專門做測(cè)試白板、漫反射板的
1°水平分辨率的32線掃描lidar系統(tǒng)
為能安全的自動(dòng)行駛,測(cè)試反射率板,不僅方位角需要高分辨率,有時(shí)候還需要俯仰角高分辨率。
---一下,光學(xué)校準(zhǔn)測(cè)試反射率板,自動(dòng)化的掃地機(jī)器人盡管移動(dòng)緩慢但是需要檢測(cè)細(xì)高的物體,如桌子腿,以便判斷能否鉆進(jìn)桌下進(jìn)行工作。這個(gè)需求與之前的高速自動(dòng)駕駛需求就不太一樣了。
一旦確定下來(lái)自動(dòng)駕駛設(shè)備的速度與行駛場(chǎng)景,需要探測(cè)目標(biāo)的性質(zhì)以及要達(dá)到的性能,就可以構(gòu)建符合其應(yīng)用的lidar系統(tǒng)構(gòu)架。
您可以做出多種選擇,例如掃描與閃光、直接飛行時(shí)間(tof)與波形數(shù)字化。
無(wú)論選擇哪一種架構(gòu),adi豐富的信號(hào)鏈和電源管理組件產(chǎn)品系列用藍(lán)色---顯示,高反射比測(cè)試反射率板,參見(jiàn)圖2會(huì)提供所需的構(gòu)建塊,可見(jiàn)測(cè)試反射率板,幫助設(shè)計(jì)存在不同---例如尺寸和成本的系統(tǒng)。
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有關(guān)負(fù)折射率材料
近幾年來(lái),負(fù)折射介質(zhì)由于其新穎的物理性質(zhì)和---的應(yīng)用前景而獲得了國(guó)際學(xué)術(shù)界的廣泛關(guān)注。
負(fù)折射介質(zhì)指的是介電常數(shù)和磁導(dǎo)率同時(shí)為負(fù)的介質(zhì),這時(shí)介質(zhì)的折射率小于零。光從常規(guī)材料(正折射率介質(zhì))入射到負(fù)折射介質(zhì)的界面時(shí)將發(fā)生負(fù)折射現(xiàn)象,折射光線與入射光線在界面法線的同側(cè)。負(fù)折射介質(zhì)改變了光波傳播的傳統(tǒng)圖像。
在負(fù)折射介質(zhì)中,光波傳播的方向(即波矢方向),正好與能量傳播的方向相反,同時(shí)電場(chǎng)、磁場(chǎng)與波矢滿足左手規(guī)則(不同于傳統(tǒng)介質(zhì)中的右手規(guī)則)。
負(fù)折射介質(zhì)引人注目的地方是它們能夠放大倏逝波,從而實(shí)現(xiàn)“超透鏡效應(yīng)”,---地提高了透鏡成像的分辨率。
這將在成像、光存儲(chǔ)和---規(guī)模集成電路中的光刻技術(shù)等諸多方面得到應(yīng)用。
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有關(guān)負(fù)折射率材料有哪些
2005年在負(fù)折射介質(zhì)的理論和實(shí)驗(yàn)研究方面取得突破。
研究人員發(fā)現(xiàn),十二重對(duì)稱的電介質(zhì)準(zhǔn)晶光子結(jié)構(gòu)也會(huì)出現(xiàn)負(fù)折射效應(yīng),而且在某些性能上---于光子晶體負(fù)折射介質(zhì)。
研究人員首先運(yùn)用的多重散射方法計(jì)算了具有十二重對(duì)稱性的準(zhǔn)周期排列的三氧化二鋁陶瓷圓棒構(gòu)成的光子結(jié)構(gòu)的透射譜,發(fā)現(xiàn)了光子帶隙的存在。
這和周期排列的光子晶體結(jié)構(gòu)十分類似。進(jìn)一步的計(jì)算發(fā)現(xiàn),當(dāng)頻率處于帶隙上頭的光束通過(guò)一個(gè)直角棱鏡的斜邊時(shí),發(fā)生了明顯的負(fù)折射現(xiàn)象。
從入射角和折射角的數(shù)值,以及折射公式,可以推斷出準(zhǔn)晶光子結(jié)構(gòu)的有效折射率的數(shù)值來(lái)。
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