材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為xrf光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區(qū)域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。 你的交錯規(guī)律排列指的

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光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進而求得樣品中待測元素的含量。它符合郎珀-比爾定律 a= -lg i/i o= -lgt = kcl 式中i為

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