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與非網6月2日訊 半導體測試系統與探針卡廠商-思達科技，推出牡羊座aries optima mems探針卡，是全球###應用在大量制造的微間距大電流mems垂直探針卡。aries optima是mems探針卡技術的###新###，不僅制訂新標準，滿足了晶圓級測試的新需求，且進而促使思達科技成為mems探針卡技術的市場供應商。
十多年來，思達科技致力在開發以及部署值的垂直探針技術，研發了一套系統和方法，以快速適應市場興起的需求。思達科技在過去20年間定期推出新產品，滿足不斷變化、各方面的市場需求，持續實現對于半導體測試行業的承諾，包括增進測試效率、降低測試成本，以及測試精度的優化、達成###佳市場價值等等。
aries optima系列的mems垂直探針卡，設計方面除了滿足不斷發展的大電流需求外，探針間距也降###45um，可將###率###大化且減少支出，具有更高的價值。思達擁有批量生產的mems探針，負載力為550ma，適用于標準應用；在汽車和高功率方面，則可達700ma、###高###150攝氏度。
根據半導體市調機構vlsi的報告，受惠于景氣回溫，其5g拓展、it基礎建設等，推升芯片需求持續成長。這些市場因素驅動mems技術重視生產效率、減少測試時間與成本，市場占有率也正逐漸提高。相較于傳統的cobra探針，ariesoptima系列穩定的dc和泄漏電流表現，非常適合應用在rf、ap、高功率等等的測試。
思達科技執劉俊良博士表示：「aries optima探針卡是全球###張微間距mems垂直探針卡，支持大電流測試，同時減少客戶的測試頻率、時間、人力成本等，是下一個世代半導體測試的###擇。」
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