FT-330系列普通四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀

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ft-330 series common four probe resistance ratio test instrument
一. 描述desc ription：
采用范德堡測(cè)量原理能---樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，優(yōu)于同類儀器精度.---是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，準(zhǔn)確.提供通訊接口，pc軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
using the vanderbilt measuring principle can improve the influence&error of external factors on measurement results,such as the geometric size of sample&boundary effect. probe not equidistant&moving machinery.&is superior to similar precision instruments. espe---lly the product measurement of square resistance which value smaller . more accurate. provide communication interface. pc software data processing&data ---ysis. in chinese/english languages.
二.滿足標(biāo)準(zhǔn)standard：
硅片電阻率測(cè)量的---astm f84及---設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?
silicon resistivity measurements of international standards (astm f84)&national standard design&manufacture of the equipment is designed in accordance with gb/t 1551-2009 "method of determination of silicon single crystal resistivity” gb/t 1552-1995. silicon&germanium single crystal resistivity to determine dc four probe method".
三.適用范圍applicable scope：
適用于生產(chǎn)企業(yè)、---院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料的---工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；采用---ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、輕便；選配：pc軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報(bào)表
suitable for manufacturing enterprises. colleges&universities&scientific research. are the necessary tools for testing&---yzing the quality of semiconductor materials.liquid crystal display. automatic measurement&coefficient compensation. with temperature compensation function. automatic conversion range.high precision ad chip control. constant current output. reasonable structure&light weight. optional to buy: pc software. save&print data. generate reports
廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、---導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ito導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜ito導(dǎo)電膜玻璃等，金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，pcb銅箔膜，emi涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， emi 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等
it is widely used in:
covering membrane;conductive polymer film. high&low temperature electric film.insulation. anti-radiation conductive film (shielding) cloth. decorative film. decorative ---.metallized labels&alloy foil films.smelting. sintering. sputtering. coating. coating layer. resistive. capacitive touch screen.electrode coating. other semiconductor materials. thin-film material square resistance testing.
silicon block. chip resistance rate&diffusion layer. epitaxial layer. ito conductive foil. conductive rubber materials such as square resistance semiconductor materials/wafer. solar cells. electronic components. conductive film (ito conductive film glass. etc.). metal film. conductive film. aluminium film evaporation. pcb copper foil membrane. emi coating materials such as conductive fiber. conductive ceramics. etc
四.型號(hào)及技術(shù)參數(shù)models&technical parameters
規(guī)格型model ft-331 ft-332 ft-333 ft-334 ft-335 ft-336
1.方塊電阻范圍sheet resistance 10-5～2×105ω/□ 10-4～2×105ω/□ 10-3～2×105ω/□ 10-3～2×104ω/□ 10-2～2×105ω/□ 10-2～2×104ω/□
2.電阻率范圍resistivity 10-6～2×106ω-cm 10-5～2×106ω-cm 10-4～2×106ω-cm 10-4～2×105ω-cm 10-3～2×106ω-cm 10-3～2×105ω-cm
測(cè)試電流范圍
test current 0.1μa ，1μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100ma 10μa，100μa，1ma，10ma，100ma 0.1μa ，1μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100ma 10μa，100μa，1ma，10ma，
100ma 0.1μa，1μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100ma 1μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100ma
4.電流精度 current accura ±0.1% ±0.2% ±0.2% ±0.3% ±0.3% ±0.3%
5.電阻精度resistance ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.5% ≤0.5% ≤0.5%
6.顯示讀數(shù)display 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率lcd: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.測(cè)試方式test mode 普通單電測(cè)量general single electrical measurement
8.工作電源power 輸入: ac 220v±10%.50hz 功 耗：<30w
9.誤差errors 整機(jī)不確定性machine uncertain errors≤4%標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 standard sample results
10.選購(gòu)功能choose to buy 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻
1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform.
11.測(cè)試探頭test probe 探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.
select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.
配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀電阻、電阻率、電導(dǎo)率測(cè)量
rooko瑞柯品牌----------于新材料測(cè)量與分析儀器解決方案
----解決材料：導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.
----我們一直在做：研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、租賃、實(shí)驗(yàn)室樣品分析及后延擴(kuò)展服務(wù)
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