反射率檢測儀、分光儀、分光光度計、光學儀器

廣東北創光電科技股份有限公司為您提供反射率檢測儀、分光儀、分光光度計、光學儀器。儀器描述 bcsp光譜儀是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的檢測/反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量.儀器特點 *顯微測定微小領域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區域φ60μm； *cie顏色測定 x y色度圖，x，y，l,a,b飽和度，主波長等； *檢測速度快 ---探測器，可在1秒內時間重現性高的測定； *消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率。技術參數
型號 bcspii型 bcspiii型
檢測范圍 380~880nm 380~1100nm
波長分辨率 1nm 1nm
相對檢測誤差 ﹤1% ﹤1%
測定方法 與標準物比較測定
被測物再現性 ±0.1%以下(2σ) 380nm~410nm ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm) ±0.1%以下(2σ) 380nm~410nm ±0.05%以下(2σ) (410nm~1000nm)
單次測量時間 ﹤1s
精度 0.3nm
被測物n.a. 0.12(使用10×對物鏡時)0.24(使用20×對物鏡時)
被測物尺寸 直徑>1mm厚度>1mm(使用10×對物鏡時)厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)
被測物測定范圍 約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時)
設備重量 約30kg光源外置
設備尺寸 300(w)×550(d)×570(h)mm
使用環境 水平且無振動的場所 溫度：23±5℃ 濕度：60％以下、無結露
操作系統 windows xp, windows vista，win7
軟件 分光反射率、物體顏色、單層膜厚有干涉條紋和鍍膜有干涉條紋折射率測定

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