中光澤通用型角度：60°
60°是所有表面都適用的測量角度。它還被用作為低光澤85°，高光澤20°測量表面時的參考角度。
低光澤：85°
為了提高低光澤表面的分辨率。可用85°測量光澤，當用60°測量物體表面光澤度值低于10gu時，選用85°角來測量。
當用85°測量不同光澤紋理或略微不均勻表面時，需進行多點測量取其平均值。
高光澤：20°
20°測量角可提高高光澤表面的分辨率。當用60°測量物體表面光度值高于70gu時，選用20°角來測量。
20°角光路對物體表面霧影現象是非常敏感的。因為，塵埃粒子計數器生產廠家，霧影是高光澤表面所特有的現象。
儀器屬于精密測量儀器，在測量時，應避免儀器外部環境的劇烈變化，如在測量時應避免周圍環境光照的閃爍、溫度的快速變化等。
在測量時，應保持儀器平穩、測量口緊貼被測物體，并避免晃動、移位；本儀器不防水，不可在高濕度環境或水霧中使用。
保持儀器整潔，避免水、灰塵等液體、粉末或固體異物進入測量口徑內及儀器內部，應避免對儀器的撞擊、碰撞。
儀器使用完畢，應關機，并將儀器、標準板放進儀器箱，妥善保存。
儀器應存放在干燥、陰涼的環境中。
用戶不可對本儀器做任何未經許可的更改。任何未經許可的更改都可能影響儀器的精度、甚至不可逆轉的損壞本儀器。
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