CCD視覺檢查機(圖)-電感電容外觀缺陷檢測-外觀缺陷檢測

2   電參數

為明確具體失效模式，根據一個品牌鉭電容元件規格書對品狀語從句：非品失效件進行了容值狀語從句：損耗測試，確認失效件容值超過規格書規定的偏差范圍，損耗也偏大。

3x射線視檢查+ 切片觀察sem

為進一步確認上述失效現象和電性失效模式，接下來對電容進行結構剖析。具體通過 x射線視檢查+ 切片觀察發現非品失效品鉭塊負極和負極引出線之間粘接銀膠開裂，其中部分失效品未完全開裂，存在輕微連接。而部分則完全開裂。進一步利用sem 放大觀察，發現介質層均勻連續，無明顯缺陷。

4   熱膨脹系數

通過切片圖片可以看出非品失效件銀膠前期應該是固化好的，同時檢查非品未失效品也證實了這一點。考慮到開裂分層一般主要是由熱膨脹不匹配導致，加之視圖片和剖面圖片顯示，外觀缺陷檢測，內部鉭塊及引線結構存在較大差異，故懷疑產品 ? 軸方向的熱膨脹一致性設計存在缺陷。故根據產品回流溫度以及相關標準，電感電容外觀缺陷檢測，對未使用品和非品進行了? 軸方向的熱膨脹測量10℃ / min ，25 ℃ ~270 ℃。

熱膨脹曲線顯示相比于正常的品曲線，智能電子元件外觀缺陷檢測，非品在 100 ℃左右即存在殘余應力釋放過程，電子元器件外觀缺陷檢測，繼而在210 ℃左右發生“爆板分層”。結合實際smt 回流曲線，溫度高在260 ℃以上，可見在回流焊接過程中非品就已經發生分層失效。

其中，cslin、cs2in為被檢測電容，csl、cs2為ms3110內部的可調電容。通過對內部寄存器進行設置，cs1可在o～1．197 pf范圍內調節，cs2可在0～9．709pf范圍內調節。cf為電荷積分器的積分電容，可在o～19．437 pf范圍內調節。以上3個可調節電容的調節步進均為19 ff。低通濾波器的帶寬可在o．5～8 khz范圍內調節，可調增益gain可選擇2或4。

另外，參考電壓vref、空載輸出電壓vout等也可以通過寄存器進行確調節。其空載輸出電壓的計算公式如下：