壓控振蕩器的類型有lc壓控振蕩器、rc壓控振蕩器和晶體壓控振蕩器。對壓控振蕩器的技術要求主要有:頻率穩定度好,控制靈敏度高,調頻范圍寬,頻偏與控制電壓成線---并宜于集成等。晶體壓控振蕩器的頻率穩定度高,但調頻范圍窄,rc壓控振蕩器的頻率穩定度低而調頻范圍寬,lc壓控振蕩器居二者之間。
空間輻射環境中的鎖相環在set作用下,將產生頻率或相位偏差,甚至導致振蕩中止,造成通信或功能中斷。壓控振蕩器是鎖相環中的關鍵電路,也是對set敏感的部件之一。本文基于工藝校準的器件模型,采用tcad混合模擬的方法,針對180nm體硅cmos工藝下高頻鎖相環中的壓控振蕩器,研究了偏置條件、入射粒子的能量以及溫度對壓控振蕩器set響應的影響,通過分析失效機理,以指導抗輻照壓控振蕩器的設計。研究結果表明,當器件工作在截止區時,入射粒子引起壓控振蕩器輸出時鐘的相位差小;壓控振蕩器的輸出時鐘錯誤脈沖數隨著入射粒子let的增加而線性增加;隨著器件工作溫度的升高,轟擊粒子引起壓控振蕩器輸出時鐘的相位差也是增大的。
隨著現代通信系統和現代雷達系統的出現,射頻電路需要在特定的載波頻率點上建立穩定的諧波振蕩,電壓調壓控振蕩器價格,以便為調制和混頻創造---的條件.設計了一個振蕩頻率在1.14~1.18 ghz的負阻lc壓控振蕩器,實現了壓控振蕩器的寬調頻,使頻率范圍達到40 mhz.并且為避免在外部電路對壓控振蕩器(vco)的影響,在電路中加入射極跟隨器作為buffer,起到阻抗變換和級間隔離的作用.為負阻lc壓控振蕩器的設計提供了一種參考電路.