生產(chǎn)高低溫環(huán)境試驗箱-高低溫環(huán)境試驗箱-科唯美特儀器(查看)

在 gjb 360b—2009《電子及電氣元件試驗方法》中涉及高溫試驗的有“高溫壽命試驗”，其試驗目的是用于確定試驗樣品在高溫條件下工作一段時間后，生產(chǎn)高低溫環(huán)境試驗箱，高溫對試驗樣品的電氣和機械性能的影響，從而對試驗樣品的做出評定。在 gjb 128a—1997《半導體分立器件試驗方法》中涉及高溫試驗的有“高溫壽命非工作”和“高溫壽命非工作抽樣方案”兩種試驗，前者的試驗的目的是用于確定器件在承受規(guī)定的高溫條件下是否符合規(guī)定的失效率，后者的試驗目的是用于確定器件在承受規(guī)定的條件下是否符合規(guī)定的抽樣方案。電子元器件在高溫環(huán)境中，其冷卻條件惡化，散熱困難，將使器件的電參數(shù)發(fā)生明顯變化或絕緣性能下降。例如，在高溫條件下，存在于半導體器件芯片表面及管殼內的雜質加速反應，促使沾污---的產(chǎn)品加速退化。此外，高溫條件對芯片的體內缺陷、硅氧化層和鋁膜中的缺陷以及---的裝片、鍵合工藝等也有一定的檢驗效果。gjb 150《設備環(huán)境試驗條件》是設備環(huán)境試驗標準，它規(guī)定了統(tǒng)一的環(huán)境試驗條件或等級，用以評價設備適應自然環(huán)境和誘發(fā)環(huán)境的能力，適用于設備研制、生產(chǎn)和交付各階段，是制定有關設備標準和技術文件的基礎和選用依據(jù)。

　led高低溫試驗箱試驗結束后我們需要做的其實很簡單，僅三個步驟，如下：

　　1.將儲水箱剩余的水排出箱外，智能高低溫環(huán)境試驗箱，不僅可避免水箱結垢導致下次試驗出錯，還可以有效的保養(yǎng)水箱達到---的作用。

　　2.將工作室的濕球紗布取下，如紗布出現(xiàn)變黃、發(fā)硬則可以直接廢棄處理，如紗布依然完好可清潔后晾干下次繼續(xù)使用，這樣可以節(jié)約紗布還可以保護濕度傳感器，步入式高低溫環(huán)境試驗箱，再用干凈抹布將工作室內的水汽或污漬擦拭干凈，如工作室較大不方便手動清潔，還可以直接使用led高低溫試驗箱的高溫功能，設定50度的高溫燒烤半小時即可。

　　3.打開工作室下方的擋風板，用吸塵器或干抹布將沉淀在上面的灰塵處理干凈。