電路板上的元件容易被靜電l擊穿方式
電路板上的元件容易被靜電l擊穿方式
靜電l擊穿分析。
一種esd敏感裝置，mos管本身的輸入電阻很大，而且柵源極間電容非常小，因此極易受到外部電磁場或靜電的影響而帶電(極間電容上有少量電荷可形成較高的電壓(如u=q/c)使管子受損)，又由于在靜電較強的情況下不易放出電荷，容易造成靜電l擊穿。
靜電l擊穿有兩種方式：
一是電壓型，即柵極的薄氧化層被擊穿，導致柵極與源極之間或柵極與漏極之間發生短路；
二是功率型，即金屬化薄膜鋁條被熔斷，導致柵極與源極之間或柵極之間發生短路。和mos管一樣，jfet管也有-的輸入電阻，只是mos管的輸入電阻較高。
反偏型pn結比正偏型pn結更易發生熱失效，反偏型pn結破壞所需能量僅為正偏型pn結的十分之一。因為反偏時，大部分能量消耗在結區中心，而正偏時，則更多地消耗在結區外的體阻。對雙極器件而言，發射結的面積一般都小于其他結，并且其結面與表面的距離較近，因此，往往可以看到發射結的退化現象。另外，擊穿電壓大于100v或漏泄電流小于1na(如jfet的柵結)的pn結比相同尺寸的普通pn結對靜電放電更敏感。
模塊電源做老化測試的原因
模組供電的脆化方法主要有常溫加載脆化和高溫插電式高低溫測試兩種，其中高溫加載脆化很為常見。針對商品部件的高溫脆化問題，可將其缺陷或缺陷曝露出來，從而提高商品的-性和-性。
模組電源的高溫脆性是模擬商品在自然環境中高溫應用的自然環境，高低溫試驗時間一般為12-48小時。溫度脆化有兩種方式，一種是自然高溫環境下設置，另一種是插入脆化。這是在高溫自然環境中，使用自然環境中更為-的標準沖擊性模塊供電。
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