風扇老化測試柜
半導體和微芯片也可能由于成核， mosfet柵極中電荷載流子的積累，鈍化不當等原因而失效。所有這些原因均導致其在較高溫度下的概率增加，其中包括較高的泄漏電流，較低的信噪比容易出錯晶體管的性能損失，商速緩存的丟失甚至損壞。硅的晶體結構。電容器和電阻器也不能-地承受熱量，較高的溫度會縮短其使用壽命。就是說，測試電子設備的關鍵要素是施加熱量，風扇老化測試柜批發，如果組件中有任何缺陷，您很快就會知道。
老化測試柜，包括柜體和設置在柜體內的恒溫加熱設備，還包括設置在柜體內的電控箱和測試模組；測試模組包括：產品測試載板，以及與產品測試載板對應設置的測試探針基板；
測試探針基板的一面排布有若干測試探針，另一面與電控箱電性連接；測試探針與產品測試載板上的測試產品連接，實現對測試產品的供電和信息監控。
產品測試載板上設置有若干整列排布的用于容納測試產品的卡槽，卡槽邊緣的產品測試載板上還設有感應片，該感應片電性連接到測試產品上；產品測試時，部分測試探針直接連接測試產品，部分測試探針通過連接感應片間接連接測試產品。
風扇老化測試柜通電后，在第-次檢測各產品的電壓前， 系統認為每個位置都是有正常電壓，電流輸出的產品， 所有的位置都顯示綠色狀態，風扇老化測試柜，如下圖:
在系統初始化大概10秒左右 ，系統將采集完所有位置的電壓，電流， 判定各個位置是否有產品 (該位置每個輸出的電壓，電流在設定范圍內為正常) 會彈出對話筐， 供用戶確認.
在正式開始老化前，用戶需要確認各個老化位置的機臺是否連接正常，風扇老化測試柜供應，是否有機臺等，風扇老化測試柜價格，如有位置的測試產品因電源線沒有插好， 導致程序測出該位置為無機臺， 用戶必須插好電源線， 再單擊”從新掃描” 按鈕， 系統將再次檢測所有位置的電壓，電流。
如果在首shou次測試電壓，電流時， 發現一些異常情況， 可以單擊 ”取消” 按鈕， 程序將切斷測試電源等， 停止測試.
在用戶確認各測試位置都已正常后， 單擊 ”確認” 按鈕，使 ”開始老化” 按鈕由灰色變為正常使用按鈕顏色， 單擊 ” 開始老化” 按鈕， 才開始正式計時老化.
如果用戶在 ”系統設定” 中的 “其他選項”
有設定時間，則程序在到達 設定時間時，自動會”確認”，并開始計時測試.
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