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芯片檢測顯微鏡是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、-的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、數(shù)碼成像技術(shù)結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)---產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在數(shù)碼相機(jī)上很方便地適時(shí)觀察金相圖像,并以數(shù)碼照片記錄下來,從而對金相圖譜進(jìn)行分析,評(píng)級(jí)等,芯片檢測顯微鏡報(bào)價(jià),還可以數(shù)碼沖洗或打印出高像素金相照片。
集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對芯片產(chǎn)品和-性要求的不斷提高,芯片檢測顯微鏡,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片檢測顯微鏡對集成電路失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。
老上光儀器廠生產(chǎn)、芯片檢測顯微鏡,我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。
正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛的應(yīng)用于透明,半透明或不透明物質(zhì),比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡,都能有-的成像效果。
***產(chǎn)品特點(diǎn)
*采用了高分辨率、長工作距離-光路校正系統(tǒng)的物鏡成像技術(shù)。
*拓展了物鏡的復(fù)用技術(shù),-遠(yuǎn)物鏡與所有觀察法相兼容包括明暗視野法、偏光法,芯片檢測顯微鏡廠家,并在每一觀察法中均提供清晰度高的圖像。
*采用非球面照明,增加觀察亮度。
---*視野目鏡,長工作距離明暗場金相物鏡。