江蘇一六儀器 x射線熒光光譜測厚儀
產品配置
x光金屬鍍層測厚儀標準配置為：x射線管，正比計數(shù)器﹨半導體探測器，高清---頭，高度激光，信號檢測電子電路。
性能指標
x射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式x射線光學系統(tǒng)
空冷式微-型x射線管，寧波測厚儀，be窗
標準靶材：rh靶；任選靶材：w、mo、ag等
x射線管：管電壓50kv，管電流1ma
可測元素：ci～u
檢測器：正比計數(shù)管
樣品觀察：ccd---頭
測定軟件：薄膜fp法、檢量線法
z軸程控移動高度 20mm
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
x射線熒光光譜測厚儀 x射線的產生
x射線波長略大于0.5納米的被稱作軟x射線。波長短于0.1納米的叫做硬x射線。
產生x射線的簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，鍍層分析儀，其損失的動能(其中的1%)會以光子形式放出，形成x光光譜的連續(xù)部分，電鍍膜厚儀，稱之為制動輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波長在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是-化的，所以放出的光子的波長也集中在某些部分，形成了x光譜中的特征線，此稱為特性輻射。
江蘇一六儀器 x熒光光譜測厚儀 涂鍍層測厚
應用領域：廣泛應用于線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測、鍍純金、k金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析、手表、精密儀表制造行業(yè)、
---鐵硼磁鐵上的ni/cu/ni/fendb、汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測、衛(wèi)浴產品、裝飾把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)、電鍍液的金屬陽離子檢測。
登錄后臺
