一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
一、外部結構原理圖
x熒光做鍍層分析時，根據射線是而下照射樣品，還是至下而上照射樣品的方式，將x熒光分析儀的外部整體結構分為：上照射和下照射兩種結構。
二、各種外部結構的特點
1、上照射方式
用于照射(激發)的x射線是采用由上往下照射方式的設備稱為上照射儀器。此類設備的z軸為可移動方式，用于確定射線照射光斑的焦點，-測量的準確性。
、z軸的移動方式
根據z軸的移動方式，分為自動和手動兩類；
自動型的設備完全由程序與自動控制裝置實現，其光斑對焦的重現性與準確度都-，而且使用非常簡便一般是與圖像采集系統與控制系統相結合的方式，一般只需要用鼠標在圖像上---一下即可定位。此類設備對于測試形狀各異的樣品非常方便，也是目前主流的分析設備類型。
手動型設備，一般需要用人觀察圖像的方式，根據參考斑點的位置，手動上下調節z軸方向，以達到準確對焦的目的。因此，電鍍測厚儀，往往在測試對象幾何結構基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。、x、y軸水平移動方式
水平移動方式一般分為：無x、y軸移動裝置；手動x、y軸移動裝置；電動x、y軸移動裝置；全程控自動x、y軸移動裝置。
這幾類的設備都是根據客戶實際需要而設計的，例如：使用無x、y軸移動裝置的也很多，結構簡單，樣品水平移動完全靠手動移動，熒光測厚儀，這種設備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對象。
江蘇一六儀器 xtu系列 xtu-bl x熒光光譜儀
儀器規格：
外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm 長x寬x高
樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm 長x寬x高
儀器重量 ：55kg
供電電源 ：交流220±5v
功率 ：330w
環境溫度：15℃-30℃
環境相對濕度：<70%
edx是借助于分析試樣發出的元素特征x射線波長和強度實現的， 根據不同元素特征x射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常edx結合電子顯微鏡使用，可以對樣品進行微區成分分析。
常用的edx探測器是硅滲鋰探測器。當特征x射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離，產生若干電子-空穴對，其數量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對，經過一系列轉換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，并計數能譜中每個能帶的脈沖數。
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江蘇一六儀器有限公司是一家-于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們-研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名-通力合作，研究開發出一系列能量色散x熒光光譜儀
一六儀器 x熒光光譜測厚儀
鍍層分析x射線熒光光譜特點
1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數10s-1分鐘，光譜分析儀，分析精度高。
2.可測試超薄的鍍層。
3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。
4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。
5.對于樣品可進行連續多點測量，上海測厚儀，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復雜面進行測量。
6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區別
7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。
8.可以對樣品進行測試
9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發鍍層標樣
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