江蘇一六儀器 涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、-的解譜方法和efp算法結(jié)合-定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。
單鍍層：zn， ni，cr，cu，ag，au，電鍍測(cè)厚儀，sn等。
雙鍍層：au/ni/cu，cr/ni/cu，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。
三鍍層：au/ni/cu/abs，au/ag/ni/cu， au/ni/cu/fe，等等
一、功能
1. 采用 x 射線(xiàn)熒光光譜法無(wú)損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度，紹興測(cè)厚儀，測(cè)量方法滿(mǎn)足
gb/t 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)等同 iso3497：2000、 astm b568 和 din50987。
2. 鍍層層數(shù)：多至 5 層。
3. 測(cè)量點(diǎn)尺寸：圓形測(cè)量點(diǎn)，直徑約 0.2—0.8毫米。
4. 測(cè)量時(shí)間：通常 30 秒。
5. 測(cè)量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。
6. 可測(cè)厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
江蘇一六儀器 x熒光鍍層測(cè)厚儀 一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題歡迎咨詢(xún)聯(lián)系！
1x射線(xiàn)激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式x射線(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)空冷式微-型x射線(xiàn)管，be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材:rh靶;任選靶材:w、mo、ag等功率:50w(4-50kv，0-1.0ma)-標(biāo)準(zhǔn)75w(4-50kv，0-1.5ma)-任選x射線(xiàn)管功率可編程控制裝備有安全防射線(xiàn)光閘
2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次x射線(xiàn)濾光片系統(tǒng)二次x射線(xiàn)濾光片:3個(gè)位置程控交換，co、ni、fe、v等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口
3準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測(cè)量斑點(diǎn)尺寸在12.7mm-距離時(shí)，測(cè)量斑點(diǎn)尺寸小至為:0.078x0.0---(使用0.025x0.05mm準(zhǔn)直器)在12.7mm-距離時(shí)，測(cè)量斑點(diǎn)尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
5x射線(xiàn)探測(cè)系統(tǒng)封氣正比計(jì)數(shù)器裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路
6樣品室cmi900cmi950-樣品室結(jié)構(gòu)開(kāi)槽式樣品室開(kāi)閉式樣品室-樣品臺(tái)尺寸610mmx610mm300mmx300mm-xy軸程控移動(dòng)范圍標(biāo)準(zhǔn):152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-z軸程控移動(dòng)高度43.18mmxyz程控時(shí)，152.4mmxy軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm-xyz三軸控制方式多種控制方式任選:xyz三軸程序控制、xy軸手動(dòng)控制和z軸程序控制、xyz三軸手動(dòng)控制
一六儀器 測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集，-efp算法 x射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀
應(yīng)用于電子元器件，led和照明，家用電器，通訊，汽車(chē)電子領(lǐng)域.efp算法結(jié)合-定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
x熒光鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用
1．一般要求
使用-的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。后的測(cè)量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測(cè)量不確定度和測(cè)量精度。
參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過(guò)規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位而不是單位面積的標(biāo)準(zhǔn)塊，將是-的。合金組成的測(cè)定，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同，膜厚測(cè)試儀，但應(yīng)當(dāng)已知。
金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片，就必須注意-接觸清潔，涂層測(cè)厚儀，無(wú)皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測(cè)量允許，否則必須進(jìn)行補(bǔ)償后再測(cè)。
2．標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇
可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來(lái)校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對(duì)試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測(cè)試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。
3．標(biāo)準(zhǔn)塊的x射線(xiàn)發(fā)射或吸收特性及使用
校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測(cè)覆蓋層具有相同的x射線(xiàn)發(fā)射或吸收特性。
如果厚度由x射線(xiàn)吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測(cè)試樣的基體具有相同的x射線(xiàn)發(fā)射特性，通過(guò)比較被測(cè)試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度，然后通過(guò)軟件達(dá)到對(duì)儀器的校正。
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