一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
一、內部結構
x熒光光譜測厚儀機型很多，但是其內部結構如果先天不足，后期的外部結構無論自動化多高，也無法完全滿足客戶需求。內部結構重要的3點：
1、x熒光發射和ccd觀測是否同步和垂直？
2、測試樣品是否可以變化測頭到樣品的距離？
3、x光照射面積從出口到樣品的擴散情況。
二、各種內部結構的優缺點
1、x熒光發射和ccd觀測樣品只有同步且垂直才不會因為樣品的高低深淺變化而改變測試到樣品的位置，才能-定位-，同時減少與探測器或計數器的夾角，夾角小測試時
受樣品曲面或者傾斜影響小。
2、測試樣品距離可變化才能測試高低不平帶凹槽的樣品工件，膜厚測試儀，同時也-好平面樣品的測試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦
補償射線的算法。
3、x光照射面積從出口到樣品的擴散過于---會導致無法測試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口準直器直徑，又會---耗損x光的強度。
因此一臺此類儀器的小準直器不是關鍵，但是測試面積卻是個重要的指標。
江蘇一六儀器有限公司是一家-于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們-研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名---通力合作，研究開發出一系列能量色散x熒光光譜儀
x射線熒光光譜測厚儀原理
一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。
它的能量是特征的，光譜分析儀，與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，電鍍測厚儀，而是以輻射形式放出，便產生x射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，x射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。 k層電子被逐出后，其空穴可以被外層中 任一電子所填充，從而可產生一系列的譜線，稱為k系譜線:由l層躍遷到k層輻射的x射線叫kα射線，由m層躍遷到k層輻射的x射線叫kβ射線……。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
x熒光測厚儀相關注意事項：
儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致.儀器三線插頭必須連接到已接地的插座上。
本儀器為精密儀器，配備的穩壓電源.計算機應配備不間斷電源(ups)。
儀器應-注意與存在電磁的場合隔離開來。
為避免短路，臺州測厚儀，嚴禁儀器與液體直接接觸，如果液體進入儀器，請立即關閉儀器。
本儀器不能用于酸性環境和場合。
不要弄臟和刮擦調校標準片，否則會造成讀數錯誤。
不要用任何機械或化學的方法清除調校片上的臟物，可以用不起毛的布輕輕擦拭。
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