進(jìn)口涂層測(cè)厚儀1、渦旋測(cè)厚法：適用于導(dǎo)電金屬材料上非導(dǎo)電層薄厚的測(cè)量該方式 的測(cè)量精度小于磁測(cè)厚法；2、超音波測(cè)厚法：適用于雙層涂層薄厚的測(cè)量或之上二種方式 均不可以應(yīng)用的地區(qū)但價(jià)格比較貴，測(cè)量精度不高；3、電解法測(cè)厚法：與所述三種方式 不一樣不屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)毀壞涂層是必需的，一般精密度不高測(cè)量起來(lái)較為不便；4、輻射源測(cè)厚：儀器設(shè)備價(jià)格比較貴一般在十萬(wàn)元之上，適用于一些-場(chǎng)地。
4.進(jìn)口涂層測(cè)厚儀邊緣效應(yīng) 這種儀器對(duì)樣品表面形狀的突然變化很敏感。因此，在樣本的邊緣或內(nèi)角附近進(jìn)行測(cè)量是不-的。 5.曲率 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而明顯增大。因此，彎曲試樣表面的測(cè)量是不-的。 6.試樣變形 7.表面粗糙度 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的表面會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)誤差和意外誤差。在每次測(cè)量期間，進(jìn)口涂層測(cè)厚儀，應(yīng)增加不同位置的測(cè)量次數(shù)，以克服此類意外誤差。
進(jìn)口涂層測(cè)厚儀檢驗(yàn)面與底邊不平行面，濟(jì)寧進(jìn)口涂層測(cè)厚儀，聲波頻率碰到底邊造成散射，探頭沒(méi)法接納究竟波數(shù)據(jù)信號(hào)。鑄造件、奧氏體不銹鋼鋼因機(jī)構(gòu)不勻稱或晶體粗壯，超音波在這其中穿過(guò)時(shí)造成比較-的散射衰減系數(shù)，進(jìn)口涂層測(cè)厚儀供應(yīng)，被散射的超音波順著繁雜的相對(duì)路徑散播，有可能使雷達(dá)回波淹沒(méi)，導(dǎo)致無(wú)法顯示。可選用-率較低的粗晶型探頭2.5chz。探頭表面有一定損壞。常見(jiàn)測(cè)厚探頭表面為環(huán)氧樹(shù)脂，長(zhǎng)期性應(yīng)用會(huì)使其表面表面粗糙度提升，造成 敏感度降低，進(jìn)而導(dǎo)致顯示信息有誤。可選用500打磨砂紙打磨拋光，使其光滑并-平面度。如仍不穩(wěn)定，則考慮到拆換探頭。
登錄后臺(tái)
