一六儀器 測厚儀 多道脈沖分析采集，---efp算法 x射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件，led和照明，家用電器，通訊，汽車電子領域.efp算法結合---定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
上照式：通常都有z軸可移動，所以可對形狀復雜的樣品如凹面內做定位并且測試，一般可定位到2mm以內的---，如thick800a，另外有些廠商在此基礎上配備了可變焦裝置，搭配---的算法，電鍍層測厚儀，可定位到80mm以內的---，如xdl237
下照式：通常都沒有z軸可移動，所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進行定位并測試，但操作簡單，造價相對低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復雜形狀樣品，同時也抬高了價格
江蘇一六儀器 涂鍍層研發、生產、銷售高新技術企業。其中穩定的多道脈沖分析采集系統、---的解譜方法和efp算法結合---定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。
單鍍層：zn，涂層測厚儀， ni，cr，cu，ag，au，sn等。
雙鍍層：au/ni/cu，cr/ni/cu，au/ag/ni，sn/cu/brass，涂鍍層測厚儀，等等。
三鍍層：au/ni/cu/abs，au/ag/ni/cu， au/ni/cu/fe，等等
一、功能
1. 采用 x 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足
gb/t 16921-2005 標準等同 iso3497：2000、 astm b568 和 din50987。
2. 鍍層層數：多至 5 層。
3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約 0.2—0.8毫米。
4. 測量時間：通常 30 秒。
5. 測量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。
6. 可測厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
江蘇一六儀器 x熒光鍍層測厚儀 一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系！
1x射線激發系統垂直上照式x射線光學系統空冷式微-型x射線管，be窗標準靶材:rh靶;任選靶材:w、mo、ag等功率:50w(4-50kv，0-1.0ma)-標準75w(4-50kv，0-1.5ma)-任選x射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統根據靶材，標準裝備有相應的一次x射線濾光片系統二次x射線濾光片:3個位置程控交換，co、ni、fe、v等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，測厚儀，防止樣品碰創探測器窗口
3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制多種規格尺寸準直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸在12.7mm-距離時，測量斑點尺寸小至為:0.078x0.0---(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm-距離時，測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)
5x射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室cmi900cmi950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-xy軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-z軸程控移動高度43.18mmxyz程控時，152.4mmxy軸手動時，269.2mm-xyz三軸控制方式多種控制方式任選:xyz三軸程序控制、xy軸手動控制和z軸程序控制、xyz三軸手動控制
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