一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
一、內部結構
x熒光光譜測厚儀機型很多，但是其內部結構如果先天不足，后期的外部結構無論自動化多高，電鍍層測厚儀，也無法完全滿足客戶需求。內部結構重要的3點：
1、x熒光發射和ccd觀測是否同步和垂直？
2、測試樣品是否可以變化測頭到樣品的距離？
3、x光照射面積從出口到樣品的擴散情況。
二、各種內部結構的優缺點
1、x熒光發射和ccd觀測樣品只有同步且垂直才不會因為樣品的高低深淺變化而改變測試到樣品的位置，才能-定位-，同時減少與探測器或計數器的夾角，夾角小測試時
受樣品曲面或者傾斜影響小。
2、測試樣品距離可變化才能測試高低不平帶凹槽的樣品工件，同時也-好平面樣品的測試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦
補償射線的算法。
3、x光照射面積從出口到樣品的擴散過于---會導致無法測試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口準直器直徑，又會---耗損x光的強度。
因此一臺此類儀器的小準直器不是關鍵，但是測試面積卻是個重要的指標。
一六儀器 測厚儀 多道脈沖分析采集，-efp算法 x射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件，led和照明，家用電器，鍍層測厚儀，通訊，汽車電子領域.efp算法結合-定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
xtu-a、xtu-50a：五金產品、緊固件、汽車配件、衛浴等，測量面積大于?0.2mm的產品
?xtu-bl：主要針對線路板等大平面，但是需要測試?0.1mm以下，且求購儀器預算較低的客戶。
?xtu-50b、xtu-4c：可測試小至?0.05mm測量面積，且搭載的精密移動平臺和變焦鏡頭xtu全系列都含有能滿足各種需求。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
一、外部結構原理圖
x熒光做鍍層分析時，根據射線是而下照射樣品，還是至下而上照射樣品的方式，將x熒光分析儀的外部整體結構分為：上照射和下照射兩種結構。
二、各種外部結構的特點
1、上照射方式
用于照射(激發)的x射線是采用由上往下照射方式的設備稱為上照射儀器。此類設備的z軸為可移動方式，用于確定射線照射光斑的焦點，-測量的準確性。
、z軸的移動方式
根據z軸的移動方式，分為自動和手動兩類；
自動型的設備完全由程序與自動控制裝置實現，其光斑對焦的重現性與準確度都-，覆層測厚儀，而且使用非常簡便一般是與圖像采集系統與控制系統相結合的方式，一般只需要用鼠標在圖像上---一下即可定位。此類設備對于測試形狀各異的樣品非常方便，也是目前主流的分析設備類型。
手動型設備，一般需要用人觀察圖像的方式，根據參考斑點的位置，手動上下調節z軸方向，以達到準確對焦的目的。因此，測厚儀，往往在測試對象幾何結構基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。、x、y軸水平移動方式
水平移動方式一般分為：無x、y軸移動裝置；手動x、y軸移動裝置；電動x、y軸移動裝置；全程控自動x、y軸移動裝置。
這幾類的設備都是根據客戶實際需要而設計的，例如：使用無x、y軸移動裝置的也很多，結構簡單，樣品水平移動完全靠手動移動，這種設備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對象。
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