江蘇一六儀器有限公司是一家-于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散x熒光光譜儀
x熒光涂鍍層測厚儀測試原理
同樣，l層電子被逐出可以產(chǎn)生l系輻射。如果入射的x 射線使某元素的k層電子激發(fā)成光電子后l層電子躍遷到k層，此時就有能量δe釋放出來，且δe=ek-el，這個能量是以x射線形式釋放，鍍鋅測厚儀，產(chǎn)生的就是kα 射線，同樣還可以產(chǎn)生kβ射線 ，l系射線等。莫斯萊(h.g.moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光x射線的波長λ與元素的原子序數(shù)z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下: λ=k(z-s)-2 這就是莫斯萊定律，式中k和s是常數(shù)，因此，只要測出熒光x射線的波長，就可以知道元素的種類，這就是熒光x射線定性分析的基礎(chǔ)。此外，熒光x射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，錫膏測厚儀，據(jù)此，可以進行元素定量分析。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
工業(yè)x射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現(xiàn)場測量等優(yōu)點，已在冶金、建材、地質(zhì)、、商檢、考古、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到迅速推廣和應(yīng)用。近幾年來x射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測量中應(yīng)用越來越廣泛。眾所周知，測厚儀，產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品與性能相關(guān)的重要指標(biāo)。實驗表明使用同位素x射線熒光分析方法，能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現(xiàn)自動控制等特點。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
一、外部結(jié)構(gòu)原理圖
x熒光做鍍層分析時，根據(jù)射線是而下照射樣品，還是至下而上照射樣品的方式，將x熒光分析儀的外部整體結(jié)構(gòu)分為：上照射和下照射兩種結(jié)構(gòu)。
二、各種外部結(jié)構(gòu)的特點
1、上照射方式
用于照射(激發(fā))的x射線是采用由上往下照射方式的設(shè)備稱為上照射儀器。此類設(shè)備的z軸為可移動方式，用于確定射線照射光斑的焦點，-測量的準(zhǔn)確性。
、z軸的移動方式
根據(jù)z軸的移動方式，分為自動和手動兩類；
自動型的設(shè)備完全由程序與自動控制裝置實現(xiàn)，鋼板測厚儀，其光斑對焦的重現(xiàn)性與準(zhǔn)確度都-，而且使用非常簡便一般是與圖像采集系統(tǒng)與控制系統(tǒng)相結(jié)合的方式，一般只需要用鼠標(biāo)在圖像上---一下即可定位。此類設(shè)備對于測試形狀各異的樣品非常方便，也是目前主流的分析設(shè)備類型。
手動型設(shè)備，一般需要用人觀察圖像的方式，根據(jù)參考斑點的位置，手動上下調(diào)節(jié)z軸方向，以達(dá)到準(zhǔn)確對焦的目的。因此，往往在測試對象幾何結(jié)構(gòu)基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。、x、y軸水平移動方式
水平移動方式一般分為：無x、y軸移動裝置；手動x、y軸移動裝置；電動x、y軸移動裝置；全程控自動x、y軸移動裝置。
這幾類的設(shè)備都是根據(jù)客戶實際需要而設(shè)計的，例如：使用無x、y軸移動裝置的也很多，結(jié)構(gòu)簡單，樣品水平移動完全靠手動移動，這種設(shè)備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對象。
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