一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
選擇elite一六儀器x射線熒光鍍層測厚儀理由：
根據ipc規程，必須使用整塊的標準片來校正儀器，對于多鍍層的測量，目前大多數客戶購買的測厚儀采用的是多種箔片疊加測量校正，比如測量pcb板上的au/pd/ni/cu，因為測量點很小，測量距離的變化對測量結果有較大影響，鍍層測厚儀，如果使用au，pd，ni三種箔片疊加校正，校正的時候箔片之間是有空氣，并且pb元素與空氣的頻譜重疊，以上會對測量結果產生較大影響，
2、采用微-x射線管，油槽式設計，工作時采用油冷，長期使用時壽命更長。微-x射線管配合比例接收能實現高計數率，可以進行-測量。
3、elite一六儀器winftm-軟件，具有-且界面友好、中英文切換，多可同時測量23層鍍層，24種元素，測量數據可直接以word格式或excel格式輸出、打印、保存。采用基本參數法fp，有內置頻譜庫，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確的分析和測量。
4、 elite一六儀器針對pcb印制電路板線路板上的鍍層厚度及分析而設計的x射線熒光測厚儀xdlm-pcb200/pcb210系列具有以下特點：1工作臺有手動和程序控制供客戶選擇，2采用開槽式設計和配置加長型樣品平臺，用于檢測大尺寸的線路板。
江蘇一六儀器有限公司是一家-于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們-研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名-通力合作，研究開發出一系列能量色散x熒光光譜儀
x熒光涂鍍層測厚儀測試原理
同樣，l層電子被逐出可以產生l系輻射。如果入射的x 射線使某元素的k層電子激發成光電子后l層電子躍遷到k層，此時就有能量δe釋放出來，且δe=ek-el，這個能量是以x射線形式釋放，產生的就是kα 射線，同樣還可以產生kβ射線 ，l系射線等。莫斯萊(h.g.moseley) 發現，熒光x射線的波長λ與元素的原子序數z有關，其數學關系如下: λ=k(z-s)-2 這就是莫斯萊定律，式中k和s是常數，因此，只要測出熒光x射線的波長，油漆測厚儀，就可以知道元素的種類，這就是熒光x射線定性分析的基礎。此外，測厚儀，熒光x射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。
江蘇一六儀器 x熒光鍍層測厚儀 一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系！
1x射線激發系統垂直上照式x射線光學系統空冷式微-型x射線管，be窗標準靶材:rh靶;任選靶材:w、mo、ag等功率:50w(4-50kv，0-1.0ma)-標準75w(4-50kv，0-1.5ma)-任選x射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統根據靶材，標準裝備有相應的一次x射線濾光片系統二次x射線濾光片:3個位置程控交換，co、ni、fe、v等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口
3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制多種規格尺寸準直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸在12.7mm-距離時，測量斑點尺寸小至為:0.078x0.0-(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm-距離時，漆膜測厚儀，測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)
5x射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室cmi900cmi950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-xy軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-z軸程控移動高度43.18mmxyz程控時，152.4mmxy軸手動時，269.2mm-xyz三軸控制方式多種控制方式任選:xyz三軸程序控制、xy軸手動控制和z軸程序控制、xyz三軸手動控制
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