x射線及其衍射x射線是一種波長0.06-20nm很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生x射線，它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長，稱為特征x射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的x射線波長為0.154056 nm。x射線衍射儀的英文名稱是x-ray powder diffractometer簡寫為xpd或xrd。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，低能x射線發(fā)生裝置報(bào)價(jià)，英文名稱為x-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為xpd或xrd。
現(xiàn)代生活的每個(gè)環(huán)節(jié)都得益于涂層或薄膜技術(shù)。無論是集成電路芯片上的阻擋層薄膜還是鋁制飲料罐上的涂層，x射線是研發(fā)，產(chǎn)品過程控制和不可缺少的分析技術(shù)。作為納米技術(shù)研究，x射線衍射(xrd)和附屬技術(shù)被用于確定薄膜分子結(jié)構(gòu)的性質(zhì)。理學(xué)的技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為涂層和薄膜測量提供各種無損分析解決方案。
1當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用xrd物相鑒定功能，低能x射線發(fā)生裝置，分析各結(jié)晶相的比例。
2很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用xrd結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。
3新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，低能x射線發(fā)生裝置公司，使用xrd可快捷測試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。
4產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用xrd可以快捷測定微觀應(yīng)力。
5納米材料由于顆粒細(xì)小，極易形成團(tuán)粒，采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用x射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
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