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半導體常用失效分析檢測儀器;

顯微鏡分析om無損檢測

金相顯微鏡om：可用來進行器件外觀及失效部位的表面形狀，尺寸，結構，缺陷等觀察。金相顯微鏡系統是將傳統的光學顯微鏡與計算機數碼相機通過光電轉換有機的結合在一起，emmi顯微鏡，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機數碼相機顯示屏幕上觀察-圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。金相顯微鏡可供研究單位、冶金、機械制造工廠以及-工業院校進行金屬學與熱處理、金屬物理學、煉鋼與鑄造過程等金相試驗研究之用，實現樣品外觀、形貌檢測  、制備樣片的金相顯微分析和各種缺陷的查找等功能。