金屬鍍層檢測-安普檢測-鍍層金相分析檢測

深圳市安普檢測技術服務有限公司為您提供金屬鍍層檢測-安普檢測-鍍層金相分析檢測。鍍層是指為了儲藏而涂在某些物品上的金屬表面涂上一層塑料，或者一層稀薄的金屬或為模仿某種貴重金屬，在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。鍍層起到提高抗腐蝕性、增加硬度、防止磨損及美觀等作用。
安普檢測提供鍍層厚度檢測服務，測試方法包括：金相法、庫侖法或x-ray方法。具體更多檢測項目請咨詢陳：181-2654-7679
1、金相法
利用金相顯微鏡原理，對鍍層厚度進行放大，以便準確的觀測及測量。
2、庫侖法
利用適當的電解液陽極溶解限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質上完全溶解，經過所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同，被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時，可由試驗開始到試驗終止的時間計算；用非恒定電流密度溶解時，由累積所耗電量計算，累積所耗電量由電量計累計顯示。
3、x-ray 方法
x射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束狹窄的多色x射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積若密度已知，則為覆蓋層線性厚度和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。
部分參考標準：
金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量輪廓儀法 gb/t 11378-2005
金屬和其他非有機覆蓋層關于厚度測量的定義和一般規則 gb/t 12334-2001
真空金屬鍍層厚度測試方法 電阻法 gb/t 15717-1995
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 x射線光譜方法 gb/t 16921-2005
金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法 gb/t 17722-1999
金屬與非金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 β射線背散射法 gb/t 20018-2005
金屬和非金屬基體上非磁性金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 相敏渦流法 gb/t 31554-2015
金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法 gb/t 31563-2015
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 陽極溶解庫侖法 gb/t 4955-2005
金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法 gb/t 6462-2005
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