XRF涂層厚度測量

深圳市杰瑞試驗設備有限公司為您提供xrf涂層厚度測量。xrf涂層厚度測量將的樣品室和的xy平臺相結合。對于大的鍍件，l系列是---品。大樣品臺和xy行程可實現大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"lxwxh的樣品。xy平臺的行程為13"x10"。
　　標準配置包括一個4位置多準直器組件，以及一個可在凹陷區域進行測量的變焦相機。 與其他型號一樣，準直器尺寸和焦距可根據不同的客戶應用進行定制。 包括可編程的xy平臺，為了滿足樣品測測量，xy平臺可以移除。探測器采用硅pin半導體探測器，可升級為---sdd探測器。
　　13號鋁元素到92號---元素
　　50 w50kv和1ma微---射線管
　　5層，每層可分析10種元素，成分分析至多可分析25種元素
　　4位置一次過濾器/4種規格準直器
　　可變焦
　　4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正
　　英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2ghz), 8gb ddr3 內存, 微軟 windows 10 版, 64位
　　1 / 4"cmos-1280×720 vga分辨率
　　150w，100-240v，頻率范圍為47hz至63hz
　　110kg
　　平臺尺寸：10"x 10"| 行程：10"x 10"
　　高度：280mm11"，寬度：550mm22"，---：600mm24"
　　高度：750mm30"，寬度：700mm28"，---：750mm30"
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