上海伯東英國原子力顯微鏡

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原子力顯微鏡 (-ic force microscope, afm), 隸屬于掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscope, spm), 是一種具有原子級別高分辨, 高解像能力的科研儀器, 原子力顯微鏡可在真空, 氣體或液體環境中操作, 適用于各種材料的表面檢測, 形貌測量, 粗糙度分析及生醫樣品檢測等.
與 stm 對比 afm 可以觀測非導電樣品, 應用范圍更廣.
上海伯東代理英國 nano-ics afm 原子力顯微鏡 , 英國 nano-ics 儀器 1998年在牛津成立, 作為原子力顯微鏡 afm 制造商, 主營環境掃描探針顯微鏡 spm, 低溫掃描探針顯微鏡 lt-spm 等, 目前廣泛應用于牛津大學, 斯坦福, 京都大學, nasa 等學府和科研院所.
英國 nano-ics 原子力顯微鏡主要型號
原子力顯微鏡
ezafm 便攜式原子力顯微鏡
掃描區域寬泛 120x120x40 μm/40x40x4 μm
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結構緊湊小巧,易安裝,使用方便
各部件分離設計,無定位懸臂設計
免費軟件升級
1小時內完成安裝
使用電壓低

原子力顯微鏡
ezstm 原子力顯微鏡
一款全新的掃描隧道顯微鏡,
小尺寸展現-性能. 可升級到 ezafm,
掃描區域 0.5x0.5x0.2 μm/1x1x0.5 μm.

原子力顯微鏡
hpafm -原子力顯微鏡優勢
多用戶設計
操作簡便
快速線性掃描
10 mp 光學鏡頭提供干凈, 沒有瑕疵的視角
自動對齊和調整

原子力顯微鏡
lt-spm 低溫掃描探針顯微鏡
減少熱漂移:
低噪音水平
提高了-和樣品的穩定性
減少壓電滯后/蠕變

nano-ics 原子力顯微鏡不同樣品成像圖
原子力顯微鏡
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