無錫未知異物分析

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未知異物分析：主要針對較難辨別異物類型的情況下進行的綜合分析，主要是結合了有機異物分析及無機異物分析的方法。其分析手段主要有以下幾種：

分析手段 典型應用 分析特點 參考標準 紅外光譜ftir 有機物定性；有機污染物分析 能進行微區分析，其顯微鏡測量孔徑可到8nm或更小，可方便地根據需要選擇樣品不同部分進行分析 gb/t 6040-2002 掃描電子顯微鏡&x射線能譜sem/eds 表面微觀形貌觀察；微米級尺寸量測；微區成分分析；污染物分析 能快速的對各種試樣的微區內be~u的大部分元素進行定性、定量分析，分析時間短 jy/t 010-1996
gb/t 17359-2012 飛行時間二次離子質譜儀tof-sims 有機材料和無機材料的表面微量分析；表面離子成像；shendu剖面分析 優異的摻雜劑和雜質檢測靈敏度可以檢測到ppm或更di的濃du；shendu剖析具有jiao好的檢測xianzhi和shendu辨析率；小面積分析 astm e1078-2009
astm e1504-2011
astm e1829-2009 動態二次離子質譜d-sims 有機材料和無機材料的表面微量分析；表面離子成像；shendu剖面分析 分析區域小，能分析10nm直徑的異物成分；分析shendu淺，可測量1nm樣品；檢出限高，一般是ppm-ppb級別 astm e1078-2009
astm e1504-2011
astm e1829-2009 俄歇電子能譜aes 缺陷分析；顆粒分析；shendu剖面分析；薄膜成分分析 可以作表面微區分析，并且可以從熒光屏上直接獲得俄歇元素像 gb/t 26533-2011 x射線光電子能譜xps 有機材料、無機材料、污點、殘留物的表面分析；表面成分及化學狀態信息；shendu剖面分析 分析層薄，分析元素廣，可以分析樣品表面1-12nm的元素和元素含量 gb/t 30704-2014

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