低頻介電常數介質損耗測試儀

北京北廣精儀儀器設備有限公司為您提供低頻介電常數介質損耗測試儀。低頻介電常數介質損耗測試儀概述gdat-s是具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率87高1mhz及10mhz的分辨率，4.3寸的lcd屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動分選測試，數據傳輸和保存的各種要求。
介電常數介質損耗測試儀是一種用于測量介質材料介電常數和介質損耗的儀器。在電介質材料的應用中，介電常數和介質損耗是兩個非常重要的參數，它們能夠反映材料的介電性能和電性能。因此，介電常數介質損耗測試儀在材料科學、電子工程、通信工程等領域有著廣泛的應用。
介電常數介質損耗測試儀的基本原理是通過測量電介質材料在交變電場下的響應來計算介電常數和介質損耗。在測試過程中，儀器會向電介質材料施加一個交變電場，并測量材料在該電場作用下的響應。通過分析這些響應，儀器可以計算出介電常數和介質損耗的值。
介電常數介質損耗測試儀的主要特點包括：
測量：該儀器采用的測量技術和算法，能夠實現的介電常數和介質損耗測量。
自動化操作：該儀器具有自動化操作系統，用戶可以通過簡單的操作完成測試。
多功能化：該儀器不僅可以測量介電常數和介質損耗，還可以用于其他相關參數的測量。
性高：該儀器采用穩定的設計和材料，了測試結果的準確性和穩定性。
在材料科學領域，介電常數介質損耗測試儀主要用于研究材料的介電性能和電性能。通過該儀器的測試，研究人員可以深入了解材料的微觀結構和介電性質之間的關系，為新材料的研發提供重要的實驗依據。
校準功能：開路, 短路全頻、點頻校準， 負載校準數算：直讀, δabs, δ%時間設定：0 -- 999, 87小分辨率100us比較器功能10檔分選，bin1～bin9、ng、aux檔計數功能
pass、fail前面板led顯示.
列表掃描10點列表掃描可對頻率、ac電壓/電流、內/外dc偏置電壓/電流進行掃描測試每掃描點可單獨分選內部非易失性存儲器：100組lcrz儀器設定文件，201次測試結果外部usb存儲器gif圖像lcrz儀器設定文件測試數據usb存儲器直接存儲
接口i/o接口：handler，從儀器后面板輸出串行通訊接口：usb、rs232c并行通訊接口：gpib接口選件網絡接口：lan存儲器接口：usb host前面板偏置電流源控制接口dci
使用dci接口可控制外部直流偏流源，偏置電流87大可達120a。
選件，dci與gpib 只能2者選1通用技術參數工作溫度, 濕度：0℃－40℃, ≤ 90%rh
電源電壓：220v±20%，50hz±2hz功耗87大80va體積(w×h×d)： 280 mm × 88 mm × 370 mm(無護套)，369 mm × 108 mm × 408 mm(帶護套)。重量：約5kg

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